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半導體封測設備
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COC BI測試設備
LQ-COCT2000是一款針對彈片式載具中的COC產品在Burn-in前&后進行LIV和光譜自動測試的設備。智能數據系統能精確存儲每個彈片載具中COC產品的測試數據及產品Burn-in前&后的各項測試數據的比對分析。設備搭載能容納20個彈片式載具自動上下料的料倉;配備精密溫控測試臺、光&電測試模組、供電系統各兩組,交替測試從而節省加熱等待時間,最大程度提升配套測試儀器的利用率和提高設備的產能。¥ 0.00立即購買
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COC 測試設備
LQ-BI114 測試設備是專門針對COC器件的老化測試開發的一款設備。設備主體采用框架式結構,載具采用可分離式“抽屜”形式,每個抽屜可獨立控溫。載具采用標準快插式電氣接口,可根據不同產品設計不同載具在同一平臺內測試。¥ 0.00立即購買
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LD芯片測試設備(常高溫)
HS-LDTS2000型 LD Chip Tester測試機是LD芯片電氣和光學特性自動測試、判定及分選的高速雙溫測試機。溫控系統采用高效TEC,實現快速升溫及降溫,可滿足在+20℃至+95℃范圍內測試。采用大光敏面PD探測器進行光功率數據的采樣轉換,測試數據的再現性和重復性穩定可靠、數據準確。¥ 0.00立即購買
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BAR TESTER
用于光電生產企業的BAR條(LD芯片)光電性能檢測,可測試長波長激光器BAR條的常溫、高溫條件下的前光的LIV參數和光譜參數,設備自動化程度高,圖像算法智能,支持多種封裝的BAR條多種參數測試,有利于生產企業提高測試效率,提高產品的品質把控。¥ 0.00立即購買
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LD芯片測試設備(低溫)
HS-LDTS1000 LDchip測試設備是一款用于LD芯片光電性能檢測,可測試長波長激光器(-40℃至-90℃溫度條件下)的前光、背光的LIV參數和光譜參數,設備自動化程度高,圖像算法智能,支持正面及端面AOI外觀檢測&OCR字符識別,有利于生產企業提高測試效率,提高產品的品質把控。¥ 0.00立即購買