LQ-COCT2000是一款針對彈片式載具中的COC產品在Burn-in前&后進行LIV和光譜自動測試的設備。智能數據系統能精確存儲每個彈片載具中COC產品的測試數據及產品Burn-in前&后的各項測試數據的比對分析。設備搭載能容納20個彈片式載具自動上下料的料倉；配備精密溫控測試臺、光&電測試模組、供電系統各兩組，交替測試從而節省加熱等待時間，最大程度提升配套測試儀器的利用率和提高設備的產能。

LQ-BI114 測試設備是專門針對COC器件的老化測試開發的一款設備。設備主體采用框架式結構，載具采用可分離式“抽屜”形式，每個抽屜可獨立控溫。載具采用標準快插式電氣接口，可根據不同產品設計不同載具在同一平臺內測試。

HS-LDTS2000型 LD Chip Tester測試機是LD芯片電氣和光學特性自動測試、判定及分選的高速雙溫測試機。溫控系統采用高效TEC，實現快速升溫及降溫，可滿足在+20℃至+95℃范圍內測試。采用大光敏面PD探測器進行光功率數據的采樣轉換，測試數據的再現性和重復性穩定可靠、數據準確。

用于光電生產企業的BAR條（LD芯片）光電性能檢測，可測試長波長激光器BAR條的常溫、高溫條件下的前光的LIV參數和光譜參數，設備自動化程度高，圖像算法智能，支持多種封裝的BAR條多種參數測試，有利于生產企業提高測試效率，提高產品的品質把控。

HS-LDTS1000 LDchip測試設備是一款用于LD芯片光電性能檢測，可測試長波長激光器（-40℃至-90℃溫度條件下）的前光、背光的LIV參數和光譜參數，設備自動化程度高，圖像算法智能，支持正面及端面AOI外觀檢測&OCR字符識別，有利于生產企業提高測試效率，提高產品的品質把控。